Laboratorio Spettroscopia Laser Ultraveloce
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Laboratorio Spettroscopia Laser Ultraveloce
Laboratorio di Spettroscopia Laser Ultraveloce. Strumentazione laser al femtosecondo e streak camera per misure di luminescenza risolta nel tempo Sistema laser al femtosecondo SOLSTICE-F-1K-230V completo dell’Amplificatore Ottico Parametrico TOPAS Prime mod. TPR-TOPAS-F Marca: Newport Spectra Physics Anno di acquisto: 2014 Il sistema integra in un singolo apparato: i) un oscillatore a Ti:Sa (Mai Tai HP) modulabile in lunghezza d’onda nel range 690-1040 nm, con frequenza di 80 MHz, potenza media di 3 W al picco e durata temporale di 100 fs; ii) un amplificatore rigenerativo a Ti:Sa completo di laser di pompa in grado di amplificare parte degli impulsi provenienti dall’oscillatore producendo un fascio di radiazione con frequenza di 1 KHz, energia per impulso di 3,5 mJ a 800 nm e durata temporale di 100 fs. All’amplificatore rigenerativo è abbinato un amplificatore ottico parametrico che emette radiazioni nell’intervallo di lunghezza d’onda 290-2600 nm con potenza compresa tra 20 e 1000 mW e durata dell’impulso di 100 fs. Tale sistema è utilizzato come sorgente di eccitazione per spettroscopia di assorbimento transiente pump-probe e di luminescenza risolta nel tempo per l’identificazione e la caratterizzazione di specie transienti con tempi di vita nel range fs – ns. Streak Camera Synchroscan Marca: Hamamatsu Anno di acquisto: 2014 Il sistema è costituito da: i) una main unit (C10910-05), dotata di fotocatodo S-20ER con range di risposta 200-900 nm; ii) una synchroscan unit (M10911-01) con risoluzione temporale < 1 ps FWHM in modalità synchroscan; iii) uno spettrografo Acton SP 2358; iv) una camera CCD ORCAFlash 4.0 V2. L’unità streak è interfacciata al laser Ti:Sa al femtosecondo, utilizzando come trigger l’impulso del laser alla frequenza di ripetizione di 80 MHz. Una serie di elementi ottici accoppia i due sistemi, portando il fascio laser di eccitazione sul campione e focalizzando la radiazione emessa dal campione sulla fenditura dello spettrografo della streak camera. Il sistema streak permette la caratterizzazione della luminescenza di materiali, in soluzione o allo stato solido, con risoluzione temporale ultracorta (< 1 ps) e simultanea informazione spettrale e di intensità del segnale. Manutenzione: Periodicamente (circa ogni due settimane) si procede alla verifica della funzionalità e delle specifiche del laser e della streak camera e all’allineamento delle ottiche per mantenere elevati gli standard di efficienza del sistema. Tarature: La taratura temporale e la taratura spettrale del sistema streak camera sono state effettuate in sede di installazione e vengono ripetute solo in caso di appurato malfunzionamento. Ubicazione: ISOF edificio 4, primo piano, laboratorio 341. Responsabile: Barbara Ventura
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